Это интересно

  • ОКД
  • ЗКС
  • ИПО
  • КНПВ
  • Мондиоринг
  • Большой ринг
  • Французский ринг
  • Аджилити
  • Фризби

Опрос

Какой уровень дрессировки необходим Вашей собаке?
 

Полезные ссылки

РКФ

 

Все о дрессировке собак


Стрижка собак в Коломне

Поиск по сайту

Главная » Журнал » Журнал наноиндустрия

Журнал наноиндустрия


Наноиндустрия - научно-технический журнал - Требования к статьям

Главная цель журнала «Наноиндустрия»,выпускаемого при поддержке Министерства промышленности и торговли РФ, пропаганда и представление современных высоких технологий главным образом по прикладным вопросам исследования и создания наноразмерных объектов и наноматериалов.

Журналом публикуются статьи междисциплинарного характера, а также работы, в которых рассмотрены вопросы практической реализации изделий и устройств на основе подобных технологий, проблемы их коммерциализации.

Журнал принимает статьи от авторов из России и из-за рубежа.

Основные типы публикаций в журнале:

  • обзоры 15000 знаков (10-12 печатных страниц),
  • оригинальная статья объемом до 15000 знаков (6-8 печатных страниц),
  • краткие сообщения объемом до 2000 знаков (2-2,5 печатных страниц).
Адрес редакции:

ЗАО «РИЦ» Техносфера125319, Москва, ул.Краснопролетарская, д.16 стр.2E-mail:[email protected]

ISSN: 1993-8578

Редколлегия оставляет за собой право не публиковать отдельные присланные статьи вследствие ограниченного объема журнала.

ПОРЯДОК РЕЦЕНЗИРОВАНИЯ РУКОПИСЕЙ,ПОСТУПИВШИХ В ИЗДАТЕЛЬСТВО «ТЕХНОСФЕРА»:

1. Научные статьи, поступившие в редакцию журналов «ЭЛЕКТРОНИКА: Наука, Технология, Бизнес», «НАНОИНДУСТРИЯ», «ФОТОНИКА» подлежат обязательному рецензированию, по письменному запросу автора.2. Главный редактор определяет соответствие статьи профилю журнала, требованиям к оформлению и направляют ее на рецензирование члену редакционного совета (редколлегии), курирующему данную тематику или стороннему специалисту, доктору или кандидату наук, имеющему наиболее близкую к теме статьи специализацию.3. Рецензенты уведомляются о том, что присланные им рукописи являются собственностью авторов и содержат сведения, не подлежащие разглашению. Рецензентам не разрешается делать копии статей и использовать содержимое статей в своих целях. Рецензирование проводится конфиденциально.4. Рецензия может быть предоставлена по соответствующему запросу экспертных советов в ВАК РФ5. Сроки рецензирования определяются Главным редактором по каждому конкретному случаю отдельно. Максимальный срок рецензирования – между датами поступления (варианта) рукописи в редакцию и вынесения редколлегией решения – составляет 2 месяца.6. В рецензии указывается:а) соответствие содержания статьи ее названию,б) оценка актуальности содержания рукописи,в) оценка формы подачи материала,г) целесообразность публикации статьи,д) детальное описание достоинств и недостатков статьи,В заключительной части рецензии на рукопись на основе ее анализа должны быть даны четкие выводы рецензента или об ее издании в представленном виде, или о необходимости ее доработки либо переработки (с конструктивными замечаниями), либо же отклонения от публикации с обоснованием.7. Если рецензия содержит рекомендации по исправлению и доработке статьи, то она направляется автору с предложением учесть рекомендации при подготовке нового варианта статьи или аргументировано их опровергнуть. Переработанная автором статья повторно направляется на рецензирование.8. В случае, когда рецензент не рекомендовал статью к публикации, редколлегия может направить статью на переработку с учетом сделанных замечаний, а также направить её другому рецензенту. Текст отрицательной рецензии направляется автору по запросу.9. Рукописи, получившие разноречивые рецензии, следует направлять на дополнительное рецензирование. Если на рукопись получены две отрицательные рецензии, то издатель имеет право сразу отклонить представленную рукопись и не издавать ее.10. Окончательное решение о публикации статьи принимают главный редактор журнала совместно с шеф-редактором объединенной редакции.11. После принятия решения о публикации, ответственный секретарь редакции извещает об этом автора по телефону или электронной почте.12. Оригиналы рецензий хранятся в редакции в течение одного года.13. Редакция не берет на себя обязательств по срокам публикации рукописи.14. Не подлежат рецензированию:– статьи членов Российской академии наук, если член академии единственный, или первый из авторов публикации;– научные доклады, заслушанные на съездах, конгрессах, конференциях и т.п., а также резолюции (решения) форумов, рекомендованные к публикации членами редсовета и оформленные в виде статей;– интервью и репортажи с Круглых столов. Конференций и пр.;– информационные, информационно-рекламные, имиджевые статьи, сообщения и объявления.

www.nanoindustry.su

Наноиндустрия - научно-технический журнал - Nanoindustry

The journal Nanoindustry supports and popularizes original works of domestic and Russian-speaking foreign specialists, introduces the readers to new nanotechnologies horizons and nanomaterials directions, deals with nanoindustry production, economic and business matters. The publications consider different aspects of design and utilization of nanomaterials, nanosized devices, and other technological innovations for electronics, medicine, building and construction works, fuel-producing industry, agriculture and other economic sectorsThe main topic course is synthesis and investigation of nanosized structures, equipment and methods; technical challenges of nanomateriels and nanostructures application in various industries, medicine, agriculture; nanoindustry mutual problems (attraction of investments, innovations marketing, standardization, intellectual property protection, nanotechnology products safety and environment protection).

Alexander Nikolaievich Saurov (born in 1960). Doctor of Engineering Science, member of Russian Academy of Science, professor, director.

Biography ChronologyGraduated the Moscow institute of electronic technique physic-technical faculty in 1983Corresponding member of RAS (2008) nanotechnologies and information technologies branch(since 1988)

A.N. Saurov – the expert in the development and application of constructive and technological methods and techniques of self-formation in micro- and nanoelectronics and micro- and nanosystem technology.

A.N. Saurov is the first deputy director of the Institute of Nanotechnology Microelectronics. He is the head of the base department "Microelectronics and Microsystems" of the National Research University of Electronic Technology. He trained 2 candidates of sciences.

PublicationsSaurov is well known as an author and co-author of 106 scientific publications, including 19 patents.

AwardsAwarded Order of the Badge of Honor, second-class medal of the Order of Merit for the Motherland (1996), Laureate of government of Russian Federation Institute for science and technique in 2001 and 2007.

Saurov Alexander Nikolaievich, RAS corresponding member, director of the federal Government Institute Research and Production Complex Technology Center MIET (NPK TC MIET), Moscow. Editorial Board chairmanAstakhov Michael Vasilyevich, research advisor of the Information and Analytical Center Nanomaterials and Nanotechnologies at Moscow State Steel and Allows Institute (technical university), PhD in chemistry, MoscowBelyaev Ivan Ivanovich, administrative assistant of the Security Council of Russian Federation, member of the Science and Technology Council State Concern Rosnanotech, Doctor of Engineering Science, professorBlagov Eugeny Vasilyevich, first vice-director of the Institute of Microelectronics Nanotechnologies, Dr. Sci. in Physics and Mathematics, professor, MoscowBorisov Juri Ivanovich, vice-president of the Military-Industrial Commission under the Goverement of RF, Doctor of Engineering Science, professorBulyarsky Sergei Viktorovich, pro-rector for research of the Uleyanovsk State University, chairman of engineering physics department, Dr. Sci. in Physics and Mathematics, professor, corresponding member of Republic of Tatarstan Academy of ScienceBukov Victor Alexandrovich, Doctor of Engineering Science, professor of the Moscow Institute of Physics and Technology MIPT, director general of CJSC Nanotechnology MDTVernik Petr Arkadyevich, director general of CJSC Golden GlobeKanevsky Vladimir Mikhailovich, vice director of RAS A.V.Shubnikov Institute of crystallography, Cand. Sc. (Physics and Mathematics), MoscowLatishev Alexander Vasilyevich, director of the RAS Siberian branch A.V.Rzhanov Institute of Semiconductors Physics, corresponding member of RAS, Dr. Sci. in Physics and Mathematics, NovosibirskLukichev Vladimir Fedorovich, deputy director science the RAS Institute of Physics and Technology, Dr. Sci. in Physics and Mathematics, MoscowLuchinin Victor Viktorovich, director of Microelectronics Center at Russian Federation Ministry of Education under Saint Petersburg State Technological University, Doctor of Engineering Science, professor, Saint PetersburgMaltsev Petr Pavlovich, director of the RAS Institute of super high frequency semiconductor electronics, vice-chairman of State Commission for Academic Degrees and Titles expert board Doctor of Engineering Science, professor, MoscowParkhomenko Juri Nikolayevich, OJSC Giredmet director, chief of the Central preparation Unit Material sciences and Metallurgy of Moscow State Steel and Allows Institute, Dr. Sci. in Physics and Mathematics, professor, MoscowReznev Aleksey Alekseyevich, general designer in the line of Special technique for antiterrorist operations, major general, officer in charge of the Russian Federation Federal Security Service Institute of scientific research, Doctor of Engineering Science, professor, MoscowSigov Alexander Sergeyevich, member of RAS, president of the Moscow State Institute of Radio engineering Electronics and Automation (technical university), MoscowTeletz Vitali Arseniyevich, director of the National Research Nuclear University MEPhI’s Institute of extreme applicable electronics, Doctor of Engineering Science, professor, MoscowTodua Paul Andreyevich, director of Surface and Vacuum Properties Research center (NITZPV), Dr. Sci. in Physics and Mathematics, professor, MoscowChapligin Juri Alexandrovich, president of the Moscow State Institute of Electronics Technology (Technical University MIET), corresponding member of RAS, Doctor of Engineering Science, professor, MoscowYaminsky Igor Vladimirovich, director general of LLC Research and Production Enterprise Advanced Technologies Center, Dr. Sci. in Physics and Mathematics, professor, Moscow

  • Exhibitions, Conferences, Seminars
  • Laboratory/Production News Reporting
  • For the Scientist and Technologist
  • Success Story/Attractive Projects
  • Standardization/Education
Published since 2007Frequency: one issue in one and a half month (8 issues annually)Edition: 4,000 issuesVolume: 64 pagesPaper: enameled glazedDissemination: subscription, retailPublisher: JSC TechnospheraCore audience: heads and fellow laborers of specialized enterprises and companies, specialists from related sectors as well as post-graduate and undergraduate students of industry-specific high-schools.

www.nanoindustry.su

Наноиндустрия - научно-технический журнал - Выпуск №1/2018

Competent opinion

Компетентное мнение

V.BykovRussian leader of international scientific instrument engineering В.БыковРоссийский лидер мирового научного приборостроения DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.6.10 I.KucheryavyyInternet of Things, most interesting has just begun! И.КучерявыйИнтернет вещей: самое интересное только начинается! DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.12.20 A.KraatzHigh purity supply systems for high-tech industries А.КраатцСистемы подачи чистых жидкостей и газов для высокотехнологичных отраслей DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.22.25 J.W.LarsenModular systems for thin-film technology Й.В.ЛарсенМодульное оборудование для нанесения тонкопленочных покрытий DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.26.28

Test & Measurement

Контроль и измерения

A.Akhmetova, I.YaminskyEarly detection of viruses and bacteria using methods of nanotechnology Modern nanotechnology opens up new effective ways of early detection of viral and bacterial infections. This paper presents two related methods based on the use of scanning probe microscopes and piezoelectric biochips. А.Ахметова, И.ЯминскийРаннее обнаружение вирусов и бактерий с использованием методов нанотехнологий Нанотехнологии открывают новые пути раннего обнаружения вирусных и бактериальных инфекций. Представлены два родственных метода, основанных на применении сканирующих зондовых микроскопов и пьезокерамических биочипов.

DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.70.74

Military and space technology

Военные и космические технологии

E.Kuznetsov, A.SaurovHardware Trojans. Part3: methods for prevention and detection In the third part of a series of articles devoted to Hardware Trojans the most effective methods to prevent and to detect them are considered. Е.Кузнецов, А.СауровАппаратные трояны. Часть 3: способы предупреждения и обнаружения В третьей части цикла обзорных статей рассмотрены наиболее действенные способы предупреждения и обнаружения аппаратных закладок в интегральных схемах – аппаратных троянов.

DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.30.40

P.VolobuevFrequency synthesizer for 5521 gate array family A frequency synthesizer IP core for 5521 gate array family is described. The functional structureof the IP core, the design and performance concepts of certain sub blocks are presented. П.ВолобуевСинтезатор частот для базового кристалла серии 5521 Рассмотрен сложно-функциональный блок синтезатора частот, который предназначен для применения в составе микросхем, разрабатываемых на основе базовых кристаллов серии 5521. Описана его структура, особенности отдельных функциональных блоков.

DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.42.49

Yu.MoskovskayaCommon methodological approach to evaluation of radiation resistance of gate arrays and semicustom very large scale ICs based on them The common methodological approach to the evaluation of radiation resistance of gate arrays and semicustom very large scale ICs based on them is developed and substantiated. The main features of ICs based on the gate arrays in relation to the objectives of ensuring and evaluation of their radiation resistance are analyzed, the dominant radiation effects in ICs are summarized. Ю.МосковскаяОбщий методический подход к оценке радиационной стойкости БМК и полузаказных БИС на их основе Разработан и обоснован общий методический подход к оценке радиационной стойкости БМК и полузаказных БИС на их основе. Проанализированы основные особенности БИС на БМК в части задач обеспечения и оценки их радиационной стойкости, обобщены доминирующие радиационные эффекты в БИС на БМК.

DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.50.59

Yu.Moskovskaya, R.Fedorov, A.Denisov, D.Bobrovskiy, A.Ulanova, A.NikiforovComposition and principle of formation of standard evaluation circuit as simulator of gate arrays and semicustom very large scale IC based on them for radiation tests The paper analyzes the main features and shortcomings of the existing system for ensuring radiation resistance of very large scale ICs based on gate arrays through the development and testing of the generic evaluation circuit (GEC). It is proposed to include all of the basic library elements into the structure of GEC. It is also proposed to maximally unify the GEC for characterization of gate arrays and control of batches of wafers, analysis of features of control of technology stability and estimation of radiation resistance of the working firmware based on test results of GEC. Ю.Московская, Р.Федоров, А.Денисов, Д.Бобровский, А.Уланова, А.НикифоровСостав и принцип формирования типовой оценочной схемы как имитатора БМК и полузаказных БИС на их основе для задач радиационных испытаний Проанализированы основные особенности и недостатки существующей системы обеспечения требований радиационной стойкости для полузаказных БИС на основе БМК путем разработки и испытаний типовой оценочной схемы (ТОС). Предложено включать в состав ТОС все базовые библиотечные элементы. Предлагается максимально унифицировать ТОС для задач характеризации БМК и контроля партий пластин, анализа особенностей контроля стабильности техпроцесса и оценки радиационной стойкости рабочих зашивок по результатам испытаний ТОС.

DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.60.69

Equipment for nanoindustry

Оборудование для наноиндустрии

A.Akhmetova, Yu.Belov, G.Meshkov, I.Yaminsky3D positioning systems in precise processing of materials The development of scanning probe microscopy has allowed to solve a number of complex tasks of moving and handling of objects with nanometer precision. This possibility is in demand in the modern areas of precision materials processing. А.Ахметова, Ю.Белов, Г.Мешков, И.ЯминскийСистемы 3D-позиционирования в точной обработке материалов Развитие техники сканирующей зондовой микроскопии позволило решить ряд сложных задач по перемещению и обработке объектов с нанометровой точностью. Такая возможность востребована в современных областях прецизионной обработки материалов.

DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.102.104

Nanotechnology

Нанотехнологии

B.PavlovHigh-efficient nanotechnology and equipment for environmental recycling and water treatment Up-to-date developments of Russian companies and their foreign partners allow to bring to market high-performance equipment for processing of all types of waste and water treatment based on nanotechnologies and nanomaterials. This equipment, combined with smart technology, allow to create the highly competitive cognitive systems that meet environmental requirements of the Russian legislation. Б.ПавловВысокоэффективные нанотехнологии и оборудование в сфере экологической переработки отходов и очистки воды Разработки российских компаний и их зарубежных партнеров позволяют создавать высокоэффективное оборудование по переработке всех видов отходов и очистке воды, созданное на основе нанотехнологий и наноматериалов. Данное оборудование позволяет создавать высококонкурентные когнитивные системы, отвечающие экологическим требованиям российского законодательства.

DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.76.87

D.Koptsev, O.Kuznetsova, N.ShelepinLow noise amplifier based on 0.18 µm silicon-on-insulator technology Experimental study of implementation of the LNA based on 0.18 µm CMOS SOI technology is conducted. The advantages of the SOI technology for the manufacture of microwave IC are discussed. LNA with six levels of aluminum metallization, has been designed and manufactured using CMOS SOI technology. Д.Копцев, О.Кузнецова, Н.ШелепинМалошумящий усилитель по технологии кремний-на-изоляторе с топологическими нормами 0,18 мкм Проведено экспериментальное исследование возможности реализации МШУ на основе КМОП КНИ-технологии с нормами 0,18 мкм. Рассматриваются преимущества КНИ-технологии для изготовления СВЧ ИС. Разработан и изготовлен МШУ с использованием КМОП КНИ-технологии, имеющей шесть уровней алюминиевой металлизации.

DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.88.94

V.Gurevich, O.RozentalOptimization of water treatment for nanotechnology industry The paper describes the technique of reducing production losses related to the variability and uncertainties in the instrumental evaluation of controllable parameters of water. В.Гуревич, О.РозентальОптимизация режимов водоподготовки для наноиндустрии В работе предложена методика снижения производственных потерь, связанных с вариабельностью и неточностью инструментальной оценки контролируемых показателей воды.

DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.96.101

www.nanoindustry.su

Смотрите также

KDC-Toru | Все права защищены © 2018 | Карта сайта